1.為什(shí)麼不同絕(jué)緣(yuán)電(diàn)阻(zǔ)測試(shì)儀(yí)測(cè)出示值存(cún)在差(chà)異？
 

　　由於高壓絕(jué)緣電(diàn)阻測(cè)試儀測試電源非(fēi)理想電(diàn)壓(yā)源
，內阻(zǔ)Ri不同(tóng)測(cè)量回(huí)路串(chuàn)接(jiē)電阻Rm不同
，動態測(cè)量準(zhǔn)確(què)度(dù)不(bù)同(tóng)
，以及(jí)現場(cháng)測(cè)量操作(zuò)的不合理或失(shī)誤(wù)等(děng)
，不同(tóng)型(xíng)號(hào)絕緣(yuán)電阻(zǔ)測(cè)試(shì)儀(yí)對同(tóng)一被(bèi)測試品(pǐn)的(dí)測量結果會(huì)存在差異(yì)
。實(shí)際測(cè)量時
，應結合(hé)絕緣(yuán)電阻測(cè)試(shì)儀絕緣試驗條(tiáo)件的(dí)特殊性盡量降低(dī)可能出現(xiàn)的各(gè)種測量誤差：
 

　　(1)不(bù)同型號的絕(jué)緣(yuán)表測量同一試品(pǐn)時
，應(yīng)采(cǎi)用相同的(dí)電壓等級和接綫方(fāng)法
。例如(rú)在測量(liáng)電力(lì)變(biàn)壓器(qì)高壓繞組絕(jué)緣中
，當(dāng)繞組引(yǐn)出(chū)端始(shǐ)終接絕緣電(diàn)阻測試儀L端鈕(niǔ)時(shí)
，就(jiù)有：E端鈕(niǔ)接(jiē)低壓(yā)繞(rào)組(zǔ)和(hé)外(wài)殼(ké)
，而G端(duān)鈕懸空(kōng)的直(zhí)接法(fǎ)；E端(duān)鈕接低壓(yā)繞組
，而(ér)G端鈕接(jiē)外殼(ké)的外(wài)殼(ké)屏蔽法(低電(diàn)位(wèi)屏(píng)蔽(bì))；G端鈕接在(zài)高壓繞(rào)組(zǔ)套管的表(biǎo)麵(miàn)
，而(ér)E端鈕(niǔ)先接(jiē)低(dī)壓繞組(zǔ)
，然(rán)後分(fēn)別再和(hé)外殼(ké)相連(lián)或(huò)不(bù)相(xiāng)連的兩種套(tào)管(guǎn)屏蔽(bì)法(高電位屏(píng)蔽)
。E端(duān)鈕接外(wài)殼
，而G端(duān)鈕(niǔ)接(jiē)低壓繞組等(děng)接(jiē)綫方法(fǎ)
。不同(tóng)結(jié)構，製式的(dí)絕(jué)緣電阻(zǔ)測(cè)試儀(yí)
，G端鈕電(diàn)位不同
，G端(duān)鈕(niǔ)在(zài)套管表麵(miàn)的(dí)安(ān)放位置也應隨之(zhī)改變
。(KD2677為(wéi)低電位屏蔽
，即G端鈕(niǔ)為低電(diàn)位)
。
 

　　(2)不(bù)同型號(hào)絕(jué)緣電阻(zǔ)測(cè)試(shì)儀的量程(chéng)和示值的刻(kè)度方(fāng)法不(bù)同
，刻度(dù)分辨力不同
，測(cè)量(liáng)準確度(dù)等(děng)級不(bù)同(tóng)
，都會引起示(shì)值(zhí)間的差異
。為了(liǎo)保(bǎo)證對(duì)電(diàn)力設(shè)備的準(zhǔn)確測(cè)量
，應避(bì)免(miǎn)選用準確度低
，使用(yòng)不(bù)方便(biàn)的搖(yáo)表
。
 

　　(3)試(shì)品大(dà)多含容性分(fēn)量
，並存在介質極(jí)化(huà)現象
，即(jí)使測試(shì)條件相同也難以(yǐ)獲得理想的數(shù)據(jù)重復性(xìng)
。
 

　　(4)測(cè)量時(shí)
，絕緣(yuán)介質的溫度和油溫(wēn)應與環境溫度一致
，一(yī)般允許相差±5%
。
 

　　(5)應(yīng)在特定(dìng)時(shí)間段的(dí)允許時間(jiān)差範(fàn)圍內
，盡快(kuài)地(dì)讀取(qǔ)測量值
。為使測(cè)量(liáng)誤差不(bù)高(gāo)於(yú)±5%
，讀取R60S的時間允(yǔn)許(xǔ)誤(wù)差±3S
，而(ér)讀取R15S的時(shí)間不應相差±1S
。
 

　　(6)高(gāo)壓測(cè)試(shì)電(diàn)源非理(lǐ)想(xiǎng)電壓(yā)源
，重(zhòng)負(fù)荷(hé)(被(bèi)測(cè)試品絕緣(yuán)電阻值小(xiǎo))時(shí)
，輸(shū)出(chū)電壓低於(yú)其額定(dìng)值
，這(zhè)將(jiāng)導(dǎo)致單(dān)支路(lù)直(zhí)讀測(cè)量法(fǎ)絕緣電阻(zǔ)測(cè)試(shì)儀(yí)測量準(zhǔn)確度因轉(zhuǎn)換(huàn)係數的改(gǎi)變而(ér)降低(dī)
。這(zhè)種(zhǒng)改(gǎi)變因(yīn)絕(jué)緣電阻測(cè)試(shì)儀(yí)測試(shì)電(diàn)源負荷特(tè)性(xìng)不同(tóng)而(ér)異
。
 

　　(7)不同動態測(cè)試(shì)容(róng)量指標的(dí)絕緣電(diàn)阻測(cè)試(shì)儀
，試(shì)驗(yàn)電壓在試品(pǐn)上(及(jí)采樣電阻上(shàng))的(dí)建立過(guò)程(chéng)與(yǔ)對試(shì)品(pǐn)的充(chōng)電能力均存在差異(yì)
，測(cè)量結果(guǒ)也會(huì)不同(tóng)
，使(shǐ)用低(dī)於(yú)動態測試(shì)容(róng)量指(zhǐ)標門(mén)限值的(dí)絕(jué)緣電阻(zǔ)測試儀測(cè)量時
，由(yóu)於儀(yí)表存(cún)在慣性網絡(包(bāo)括指(zhǐ)針式儀表(biǎo)的機械慣性(xìng))導(dǎo)致(zhì)示值響應(yīng)速度(dù)較慢(màn)
，來(lái)不及正(zhèng)確反(fǎn)映試品實(shí)在絕緣電阻值隨(suí)時間(jiān)的變化規(guī)律(lǜ)
，尤其是在測試的起始階段
，電(diàn)容充(chōng)電電(diàn)流未*衰減(jiǎn)為零(líng)
，更會(huì)使(shǐ)R15S和吸(xī)收比(bǐ)讀測(cè)值產(chǎn)生(shēng)較(jiào)大誤(wù)差(chà)(偏(piān)小)
。
 

　　(8)試(shì)品絕緣(yuán)介質極化(huà)狀(zhuàng)況與外(wài)加試驗(yàn)電(diàn)壓(yā)大小有關
。由(yóu)於(yú)試驗電壓不能迅速(sù)達到(dào)額(é)定(dìng)值
，或因絕(jué)緣電(diàn)阻測(cè)試(shì)儀(yí)測(cè)試電(diàn)源負(fù)荷特(tè)性不(bù)同導(dǎo)致(zhì)施加於試品上試(shì)驗電壓的(dí)差異(yì)
，使(shǐ)試(shì)品初始極(jí)化(huà)狀況(kuàng)不(bù)同
，導致(zhì)吸(xī)收電流不同
，使(shǐ)緣電(diàn)阻測(cè)量的示值(zhí)不同(tóng)
。
 

　　(9)國外(wài)某(mǒu)些(xiē)絕(jué)緣電阻測(cè)試儀(yí)的試驗高(gāo)電壓(yā)連續可(kě)調
，開(kāi)機(jī)後(hòu)先(xiān)由(yóu)零調節(jié)至(zhì)額定值
。絕(jué)緣電阻(zǔ)測試儀讀數起始(shǐ)時間(jiān)的(dí)不(bù)確(què)定(dìng)性(xìng)
，以(yǐ)及高壓達到額定值(zhí)時間的不確(què)定性
，使試(shì)品(pǐn)初始極化(huà)不(bù)同
，也(yě)將引起示(shì)值(zhí)間的差別
。
 

　　(10)不(bù)同(tóng)絕緣(yuán)電阻(zǔ)測試儀(yí)現(xiàn)場幹(gān)擾(rǎo)的敏感度和(hé)抵御能力不(bù)同
，對同一(yī)試品的讀(dú)測值(zhí)會(huì)存(cún)在差異(yì)
。
 

　　(11)數(shù)據(jù)隨(suí)機(jī)起伏(fú)的(dí)常規測量誤差和絕(jué)緣電阻測(cè)試(shì)儀方(fāng)法誤差(chà)不(bù)同(tóng)等(děng)引(yǐn)起(qǐ)示值(zhí)間的差異
。
 

　　(12)介(jiè)質放電不充分是(shì)重(zhòng)復測(cè)量(liáng)結果(guǒ)存在差(chà)異(yì)的重(zhòng)要(yào)原因之(zhī)一(yī)
。據試(shì)品充電吸(xī)收(shōu)電流(liú)與其反向放電電流(liú)對應和可(kě)逆的(dí)特(tè)點
，若需對同一試品(pǐn)進(jìn)行第二(èr)次(cì)重復(fù)測量(liáng)
，*次(cì)測(cè)量結束(shù)後的(dí)試品(pǐn)短路(lù)放(fàng)電(diàn)間歇(xiē)時(shí)間(jiān)一(yī)般應(yīng)長於測量時間(jiān)
，以(yǐ)放盡(jìn)所積(jī)聚(jù)的吸(xī)收(shōu)電(diàn)荷量(liáng)
，使試(shì)品(pǐn)絕(jué)緣介質充(chōng)分(fēn)恢(huī)復(fù)到(dào)原先(xiān)無極化狀態
，否則將(jiāng)影(yǐng)響第二次(cì)測量數(shù)據的準確度
。為(wéi)使被(bèi)試(shì)品上無(wú)剩餘(yú)電(diàn)荷(hé)
，每一(yī)次(cì)試驗前也應該(gāi)將(jiāng)測(cè)量端對(duì)地短路(lù)放(fàng)電(diàn)
，有(yǒu)時(shí)甚(shèn)至需時近(jìn)1小時
，並應拆(chāi)除與無關(guān)設(shè)備間的聯綫
。總之(zhī)
，同一試品不(bù)同時(shí)期(qī)的絕緣測量
，應(yīng)采用(yòng)相同(tóng)的試驗(yàn)電壓(yā)等(děng)級和接(jiē)綫方(fāng)法
，並盡可能使(shǐ)用同(tóng)一(yī)型(xíng)號(hào)或(huò)性能(néng)相近的絕緣(yuán)電(diàn)阻表
，以(yǐ)保證測量數據(jù)的可比(bǐ)性
。
 

　　(13)zui後還應特(tè)別強調選(xuǎn)用(yòng)動(dòng)態測量準確(què)度較低和(hé)高壓(yā)測(cè)試電源(yuán)容(róng)量較(jiào)低的儀表(biǎo)
，由於(yú)電(diàn)容充電(diàn)電流(liú)尚(shàng)未(wèi)*衰(shuāi)減為(wéi)零(líng)
，以(yǐ)及(jí)儀表(biǎo)示值不能(néng)準(zhǔn)確(què)地實時(shí)跟隨(suí)試(shì)品視(shì)在(zài)絕緣(yuán)電阻值的(dí)變化
，讀測R15S阻值(zhí)偏低(dī)
，出(chū)現較(jiào)大誤差
，導致試(shì)品(pǐn)吸(xī)收比測(cè)試值虛(xū)假偏高(gāo)
，應引起測試人(rén)員(yuán)特別重視(shì)
。這(zhè)也(yě)可(kě)能(néng)是(shì)各(gè)種型號高壓(yā)絕緣電阻測試儀測量同(tóng)一(yī)試品時吸收(shōu)比讀測(cè)值(zhí)存(cún)在(zài)差異的(dí)主要原(yuán)因
。由(yóu)此(cǐ)也說(shuō)明(míng)吸收(shōu)比判比(bǐ)指標(biāo)不及極化指(zhǐ)數科學(xué)和(hé)客(kè)觀
。
 

　　2.高(gāo)壓絕(jué)緣(yuán)電(diàn)阻測試儀(yí)的選(xuǎn)型(xíng)
 

　　用(yòng)戶可(kě)以根(gēn)據試品(pǐn)特性(xìng)和試驗(yàn)規(guī)程要求(qiú)選(xuǎn)擇適(shì)用的(dí)高壓絕(jué)緣電阻測試儀
，選(xuǎn)型(xíng)的(dí)原(yuán)則主(zhǔ)要是絕緣電(diàn)阻測(cè)試儀(yí)試驗電壓等(děng)級
，輸出短(duǎn)路(lù)電流和量程(chéng)範(fàn)圍符合(hé)規(guī)程(chéng)要求(qiú)
，較高的動態測量(liáng)準(zhǔn)確度(dù)和抗(kàng)現(xiàn)場(cháng)幹(gān)擾(rǎo)能力
，使用(yòng)安全方便(biàn)
，較(jiào)好的性價比(bǐ)等
。根據測試對(duì)象和要求(qiú)不同
，絕(jué)緣電(diàn)阻測試儀(yí)大(dà)致(zhì)可(kě)以劃(huá)分為(wéi)普(pǔ)及(jí)型，主(zhǔ)導型，和(hé)型三種
，根(gēn)據電力(lì)設(shè)備預防(fáng)和交接試驗(yàn)規程
，用於測量試品絕緣電(diàn)阻的(dí)普及型絕緣(yuán)電阻測試儀試(shì)驗(yàn)電(diàn)壓等級500V
，1000V
。主(zhǔ)導(dǎo)型絕(jué)緣(yuán)電阻(zǔ)測(cè)試儀主要測量(liáng)試(shì)品的(dí)絕緣電(diàn)阻
，吸(xī)收比(bǐ)或極(jí)化指數(shù)
，電壓等級為2500V
，5000V
。型(xíng)絕(jué)緣電阻測試儀用(yòng)於測(cè)量同(tóng)步(bù)發電機(jī)
，直流電(diàn)機
，交(jiāo)流(liú)電(diàn)動(dòng)機等繞(rào)組的絕緣(yuán)電阻，吸收(shōu)比和(hé)極化(huà)指(zhǐ)數(shù)
。有時還要(yào)求測(cè)量或(huò)測算真(zhēn)實(shí)絕緣電阻(zǔ)值(zhí)
。對於(yú)容(róng)性(xìng)負(fù)載較大的試品(pǐn)
，一(yī)般(bān)選用合(hé)適的(dí)電(diàn)壓等(děng)級(jí)和足夠大的(dí)輸出短路(lù)電流，絕緣值量(liáng)程範圍(wéi)大，自(zì)動(dòng)對(duì)被(bèi)測試(shì)品放電的絕緣電阻測(cè)試儀
，否則(zé)R15S阻值(zhí)將會(huì)影響較大(dà)
，而(ér)使吸(xī)收比測試結(jié)果(guǒ)出現較大的(dí)誤(wù)差
。對於幹(gān)擾較強(qiáng)的測試(shì)現場
，應選用指(zhǐ)針(zhēn)式(shì)絕緣電阻測試儀
，因(yīn)為(wéi)選用(yòng)數字顯(xiǎn)示的絕緣(yuán)電(diàn)阻(zǔ)測試(shì)儀(yí)
，其測量(liáng)數(shù)據(jù)有較大(dà)的(dí)跳動(dòng)
，從(cóng)而無法確認(rèn)真(zhēn)實的(dí)阻值(zhí)
。